XRF自動化系統(tǒng)
自動化化學(xué)前處理
全自動火試金
離子遷移測試應(yīng)用
半導(dǎo)體測試應(yīng)用
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SPECTROCUBE 偏振能量色散X熒光分析儀 ED-XRF
全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析儀為各種應(yīng)用提供簡單、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析，在貴金屬分析、燃料和潤滑油、RoHS合規(guī)檢測及各種篩分分析尤為優(yōu)秀。 -
德國斯派克ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀GREEN
采用垂直同步雙觀測 (DSOI)技術(shù)的ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀 SPECTROGREEN -
德國斯派克全譜電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 ICP（ARCOS）
專利的密封充氣紫外光學(xué)系統(tǒng)，全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)，高靈敏度、高精度以及波長范圍寬。 全波長覆蓋，130~770nm的波長范圍，可分析ppm級鹵素 -
PHASE(菲斯)公司全自動冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)檢測儀-70Xi
眾多國際、國內(nèi)分析標(biāo)準(zhǔn)均按照PHASE(菲斯)公司產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)制定。 PHASE(菲斯)公司全自動冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)檢測儀-70Xi采取自動脈沖壓檢測，冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)四大功能 -
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進(jìn)行測量，可進(jìn)行高精度膜厚度 光學(xué)常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測量時間 -
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700） 提供豐富選配套件以及客制化光纖， 可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計，是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的最佳即時測量系統(tǒng)